Accueil › Indre-et-Loire › Équipements de laboratoire… › Appel d'offres 25-127486
Acquisition d'un Système de profilométrie 3D et d'un Microscope Electronique à balayage pour le laboratoire Gabriel LaMé de l'Université de Tours
Universite de toursProcédure ouverteFournitures
Date limite de réponseclos, publié le 19 novembre 2025
Date limite de réponse
- La date de la dernière publication qui en donne une, corrections comprises, telle que l'acheteur l'a publiée.
Marché précédentFei Francefin estimée : déc. 2025Voir l'historique
Marché précédent
- Un marché du même acheteur dont cet appel d'offres pourrait être le renouvellement : même acheteur, objet proche.
- Rapprochement : correspondance étroite.
Le besoin
- Objet
- Acquisition d'un Système de profilométrie 3D et d'un Microscope Electronique à balayage pour le laboratoire Gabriel LaMé de l'Université de Tours
- Description
- Le présent marché a pour objet l'acquisition d'un Système de profilométrie 3D optique et d'un Microscope Électronique à balayage pour le laboratoire LaMé de l'Université de Tours. Les prestations font l'objet de 2 lots, traités par marchés séparés : - Lot n° 1 : Système de profilométrie 3D optique pour l’analyse surfacique, de texture et dimensionnelle d’objets poreux et lisses - Lot n° 2 : Microscope Électronique à balayage
- Lieu d'exécution
- Tours, 37200 · département : Indre-et-Loire (37)
- Adapté aux PME
- oui, pour au moins un lot, selon l'acheteur
- Volet social ou environnemental
- environnemental
Suivez cet appel d'offres : sa date limite dans votre agenda, ses mises à jour dans votre compte.
SuivreLes marchés du même acheteur que cet appel d'offres pourrait remplacer.
- fin estiméeLe présent marché a pour objet la fourniture d'équipements scientifiques pour le Centre d’Etudes et de Recherche Technologiques en Microélectronique (CERTeM 5.0). Les prestation font l'objet de 5 lots, traités par marchés séparés : - Lot n° 1 : Équipement d'analyse Thermogravimétrique (ATG) couplé à une Spectroscopie infrarouge à transformée de Fourier (FTIR) - Lot n° 2 : Équipement de retrait de résine (stripping) par plasma - Lot n° 3 : Équipement d'impression par jet d'aérosol - Lot n° 4 : Système de Microscopie Electronique (MEB) couplé à une Faisceau d'ions focalisé (FIB) - Lot n° 5 : Équipement de gravure RIE sur échantillons et plaquettes - Système de Microscopie Electronique (MEB) couplé à une Faisceau d'ions focalisé (FIB)
Titulaire : Fei France
1,4 M€montant HT
Rapprochement : correspondance étroite.
Identité
- Code CPV
- Microscopes électroniques à balayage, code 38511100
- Prix habituel
- montants de référence du code 38511100
- Code CPV
- Appareils d'analyses, code 38432000
- Prix habituel
- montants de référence du code 38432000
- Nature
- Fournitures
- Procédure
- Procédure ouverte
Référence, sources et dates de publication
- Référence
- 25-127486
- Source de référence
- BOAMP (DILA)
- Publication officielle
- 25-127486 ↗ (nouvel onglet)
- Première parution
- 19 novembre 2025
- Dernière publication
- 19 novembre 2025
- Dernière correction
- aucune
- SIRET de l'acheteur
- 19370800500478
- Contact
- publié dans l'appel d'offres 25-127486, paru le 19 novembre 2025