Spectromètre de masse à ionisation secondaire (sims) résolu spatialement pour la caractérisation de matériaux

Attribué898 k€montant HT, à Orsay Physics SAS, le 8 juillet 2020

Date limite de réponse1 juin 2020clos, publié le 3 mai 2020

La date de la dernière publication qui en donne une, corrections comprises, telle que l'acheteur l'a publiée.

Durée15 mois

Le besoin

Objet: Spectromètre de masse à ionisation secondaire (sims) résolu spatialement pour la caractérisation de matériaux
Description: Fourniture d'un spectromètre de masse à ionisation secondaire (SIMS) résolu spatialement pour la caractérisation de matériaux
Durée: 15 mois
Prolongation: non prévue
Lieu d'exécution: département : Calvados (14)

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Résultat publié	Marché	Titulaire	Attribué le	Montant
résultat 20-105152 (nouvel onglet)paru le 27 août 2020	Marchémarché non retrouvé, lu dans le résultat · 2 offres reçues	Orsay Physics SAS (taille déclarée : PME)	8 juillet 2020la notification n'est pas publiée dans l'annonce	897 847 €montant du marché

Aucun lien cherché : le SIRET de l'acheteur n'est pas publié.

Référence, sources et dates de publication

Référence: 20-59369
Source de référence: BOAMP (DILA)
Publication officielle: 20-59369 ↗ (nouvel onglet)
Première parution: 3 mai 2020
Dernière publication: 3 mai 2020
Dernière correction: aucune
SIRET de l'acheteur: non publié par la source
Nom publié sur cet appel d'offres: Ensicaen
Acheteur: Acheteur rattaché à sa page par son nom et son département. L'appel d'offres ne publie pas son SIRET.
Contact: publié dans l'appel d'offres 20-59369, paru le 3 mai 2020