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microscope électronique à balayage (meb) scanning electron microscopy (sem)
Centre Technologique ALPHANOVProcédure ouverteFournituresAnnulé
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Date limite de réponseannulé, publié le 27 février 2018
Date limite de réponse
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Le besoin
- Objet
- microscope électronique à balayage (meb) scanning electron microscopy (sem)
- Description
- Microscope électronique à balayage (MEB) Scanning Electron Microscopy (SEM)
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Identité
- Code CPV
- non renseigné
- Nature
- Fournitures
- Procédure
- Procédure ouverte
Référence, sources et dates de publication
- Référence
- 18-27761
- Source de référence
- BOAMP (DILA)
- Publication officielle
- 18-27761 ↗ (nouvel onglet)
- Première parution
- 27 février 2018
- Dernière publication
- 6 juillet 2018
- Dernière correction
- 6 juillet 2018
- SIRET de l'acheteur
- non publié par la source
- Contact
- publié dans l'appel d'offres 18-95018, paru le 6 juillet 2018