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microscope électronique à balayage pour mesure de dimensions critiques (cd-sem)…

Universite de BesanconProcédure ouverte

Attribué160 k€prix ou maximum, à entreprise retenue non identifiée, le 31 mai 2016
Date limite de réponse17 mai 2016clos, publié le 24 mars 2016

Date limite de réponse

  • La date de la dernière publication qui en donne une, corrections comprises, telle que l'acheteur l'a publiée.

Méthode

Durée6 mois

Le besoin

Objet
microscope électronique à balayage pour mesure de dimensions critiques (cd-sem) à Besançon
Description
Microscope électronique à balayage pour mesure de dimensions critiques (CD-SEM)
Durée
6 mois
Lieu d'exécution
Besançon, 25000 · département : Doubs (25)

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Résultat

1
Résultat publiéMarchéTitulaireAttribué leMontant
résultat 16-96346 (nouvel onglet)paru le 1er juillet 2016Marchémarché non retrouvé, lu dans le résultat · 1 offre reçueentreprise retenue non identifiée31 mai 2016la notification n'est pas publiée dans l'annonce160 000 €prix ou maximum, non précisé

Avant cet appel d'offres

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Identité

Code CPV
Microscopes électroniques à balayage, code 38511100
Prix habituel
montants de référence du code 38511100
Nature
non renseignée
Procédure
Procédure ouverte
Référence, sources et dates de publication
Référence
16-41791
Source de référence
BOAMP (DILA)
Publication officielle
16-41791 ↗ (nouvel onglet)
Première parution
24 mars 2016
Dernière publication
24 mars 2016
Dernière correction
aucune
SIRET de l'acheteur
non publié par la source
Nom publié sur cet appel d'offres
Université de Franche-Comté
Acheteur
Acheteur rattaché à sa page par son nom et son département. L'appel d'offres ne publie pas son SIRET.
Contact
publié dans l'appel d'offres 16-41791, paru le 24 mars 2016